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全自動(dòng)芯片四面外觀檢測(cè)設(shè)備

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全自動(dòng)芯片四面外觀檢測(cè)設(shè)備

主要應(yīng)用于光通訊、高功率激光芯片等單芯片外觀檢測(cè)；檢測(cè)缺陷類型：臟污、劃痕、崩邊、異色、解理紋、膜層脫落等;

AOI-LD420機(jī)型是針對(duì)激光芯片外觀檢查所開發(fā)的高精度鏡檢系統(tǒng)，應(yīng)用于Chip晶粒制程中的缺陷檢查，節(jié)省人力，提升制程的品質(zhì)穩(wěn)定性。本系統(tǒng)基于精密運(yùn)動(dòng)和減震平臺(tái)，搭載納米級(jí)光學(xué)系統(tǒng)，核心視覺系統(tǒng)采用傳統(tǒng)算法和AI算法結(jié)合，完成芯片取放，AR面/HR面/P面/N面的檢查，識(shí)別芯片編號(hào)和關(guān)聯(lián)對(duì)應(yīng)輸出缺陷信息;

產(chǎn)品咨詢電話：13811928592（毛總）
產(chǎn)品咨詢郵箱：[email protected]

  • 易操作，快速建模，類似產(chǎn)品可自動(dòng)生成模板

  • 基于深度學(xué)習(xí)的缺陷檢測(cè)+傳統(tǒng)算法輔助，參數(shù)可自由設(shè)定卡控

  • 支持離線復(fù)判，支持報(bào)表訂制修改

  • 可實(shí)現(xiàn)不破膜取料，降低產(chǎn)品損傷率

  • 可實(shí)現(xiàn)訂制吸嘴，減小壓傷風(fēng)險(xiǎn)

  • 納米級(jí)高精度光學(xué)檢測(cè)平臺(tái)

  • 定制鏡頭，支持選配微弱解理紋專項(xiàng)檢測(cè)

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